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一种光学装置和降低仪器偏振效应的方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: ZL202111235154.5, 申请日期: 2021-10-22, 公开日期: 2022-02-08，授权日期：2023-09-15
发明人:  付玉;  袁沭;  金振宇;  刘忠;  谭旭;  夏苏
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天文镜面保护铝膜偏振特性测量方法 期刊论文
天文研究与技术/Astronomical Research & Technology, 2022, 卷号: 19, 期号: 02, 页码: 158-164
作者:  夏苏;  袁沭
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偏振测量  仪器偏振  保护铝膜偏振特性  Mueller矩阵  反演光学参数  
铝反射膜偏振特性的测量方法与实现 学位论文
北京: 中国科学院大学, 工程硕士, 2021
作者:  夏苏
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偏振测量  仪器偏振  金属膜偏振特性  Mueller矩阵  反演光学参数