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一种高精度高能量激光偏振态检测系统
彭月; 翟东升2; 苏必达; 王静; 孙腾; 陈红; 李鹏飞2; 李语强2
申请(专利权)人北京环境特性研究所 ; 中国科学院云南天文台
专利号ZL202310338574.9
申请号CN202310338574.9
2023-07-04
申请日期2023-03-31
公开(公告)号CN116381648A
公开日期2023-07-04
IPC 分类号G01S7/4861G01S7/481
授权国家中国
专利类型发明
专利状态公开
学科领域物理学 ; 光学 ; 机械工程 ; 仪器仪表技术
产权排序2
摘要本发明涉及一种高精度高能量激光偏振态检测系统,涉及激光雷达领域,包括聚焦透镜、准直透镜、格兰激光偏振器、光纤耦合透镜和单光子探测器,聚焦透镜将检测的光路聚焦至准直透镜,准直透镜对回波光束进行缩束,缩束的光束经由格兰激光偏振器对回波偏振方向进行调制,最终将调制后的光束入射到单光子探测器内,本发明具有利用不同偏振态的激光获得多颗碎片多圈次的测距数据,以实现准确测距的优点。
主权项1.一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:包括聚焦透镜、准直透镜、格兰激光偏振器、光纤耦合透镜和单光子探测器,聚焦透镜将检测的光路聚焦至准直透镜,准直透镜对回波光束进行缩束,缩束的光束经由格兰激光偏振器对回波偏振方向进行调制,最终将调制后的光束入射到单光子探测器内,其中单光子探测器接收光路的有效焦距满足: D为接收镜的口径; f为焦距 θ为入射光束发散角半角。 2.根据权利要求1所述的一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:单光子探测器采用低温超导纳米线探测器。 3.根据权利要求1所述的一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:格兰激光偏振器与准直透镜之间还设有四分之一波片和二分之一波片,格兰激光偏振器与四分之一波片、二分之一波片分别布置在行程为360°的转台上且均位于同一竖直面。 4.根据权利要求3所述的一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:格兰激光偏振器出射端外设有能量计,以在检测到能量峰值后通过四分之一波片和二分之一波片转动的角度确定能量峰值对应的角度值。 5.根据权利要求3所述的一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:二分之一波片下设置有X形的安装架,安装架中部为直杆,直杆上开设有滑道,滑道内间隔固连有左挡块和右挡块,左挡块中部开设有一个左穿槽,右挡块间隔开设有两个右穿槽,两个右穿槽间距大于或等于左穿槽宽度,二分之一波片下方转台底部固连有滑座,滑座下间隔固连有两块左定位块,两块左定位块穿过右穿槽并抵接在左挡块一侧以使二分之一波片与四分之一波片处于同一光轴。 6.根据权利要求5所述的一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:安装架四边上均滑动连接有光学器件,光学器件均固连在不同的滑座上,直杆一侧的滑座底部均固连有右定位块,直杆另一侧的滑座底部均为左定位块,右定位块穿过左穿槽抵接在右挡块一侧以使光学器件与四分之一波片处于同一光轴。 7.根据权利要求6所述的一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:滑座底部均固连有稳向座,稳向座宽度与滑道宽度相同,稳向座嵌入滑道长度小于滑道深度,左定位块和右定位块固连在稳向座下。 8.根据权利要求7所述的一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:左定位块、右定位块和稳向座均由金属材料制成,滑道位于左挡块和右挡块一侧嵌入有磁铁,左定位块和右定位块移动至左挡块和右挡块时与磁铁抵接。 9.根据权利要求8所述的一种高精度高能量激光偏振态检测系统,其特征在于:二分之一波片和其他光学器件均通过螺栓固定在滑座上,安装架和四分之一波片均通过螺栓固定在带有多个螺栓孔的实验台上。
语种中文
专利代理人谭辉
代理机构北京格允知识产权代理有限公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.ynao.ac.cn/handle/114a53/26105
专题应用天文研究组
作者单位1.北京环境特性研究所;
2.中国科学院云南天文台
推荐引用方式
GB/T 7714
彭月,翟东升,苏必达,等. 一种高精度高能量激光偏振态检测系统. ZL202310338574.9[P]. 2023-07-04.
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