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基于双光束检偏的波片测量系统
其他题名Accurate Parameter Measurement of Wave Plate Based on the Dual-Beam Polarization Analyzer Configuration
彭建国1,2; 袁沭1; 金振宇1; 季凯帆1
发表期刊光学学报 (Acta Optica Sinica)
2020-05
卷号40期号:9页码:70-78
DOI10.3788/AOS202010.0912002
分类号O436.3
产权排序第1完成单位
收录类别EI ; ESCI ; CSCD ; 核心
关键词测量 波片 延迟量 双光束检偏 非线性响应
摘要

大口径太阳望远镜中常用波片来进行偏振定标和偏振测量,为了对这类波片的延迟量和方位角进行准确测量,提出一种基于双光束检偏的波片测量系统,建立了该系统对应的数学模型。测量系统中检偏器的方位角可作为参数进行拟合,克服了单光束测量系统中检偏器方位角误差的影响;同时,根据测量系统的结构,对待测波片的延迟量范围进行分析,实现了对偏振定标和偏振测量中所使用波片的精确测量。分析了测量系统误差的主要来源,包括光源光强噪声、电机定位误差和探测器非线性响应,并对探测器非线性响应进行了校正。该方法测量1/4波片和127°波片的延迟量和方位角误差小于0.02°,测量27°~145°和215°~333°范围波片样品的延迟量和方位角误差小于0.05°。 

其他摘要

A wave plate is commonly used for polarization measurement and polarization calibration of a large solar telescope. In this study, we developed a measurement system based on the dual-beam polariztion analyzer configuration to measure the phase retardance and azimuth angle of the wave plate, and derived the corresponding mathemantical model. The influence of azimuth error of the polarizerin the single bema measurement system was overcome by fitting the azimuth of the polarizer. At the same time, we analyzed the retardance range of the measuring plate, and accurately measured the wave plate used in polarization calibration and polarication measurement. Finally, we analyzed the main error sources of the system, including the power noise of the light soucec, position error of the rotating stage, and nonlinear response of the detector. Sunbsequently, we corrected the detector/s nonlinear response after calibration. The measurement errors of phase retardance and azimuth angle are within 0.02 for a quater-wave plate and a wave plate with pase retardaces of 127. The retardance and azimuth errors are leass than 0.05 for the wave plates with phase retardances of 27-145 and 215-333.

资助项目国家自然科学基金[11833010] ; 国家自然科学基金[11773069] ; 国家自然科学基金[11873091] ; 云南省基础研究计划重点项目[2019FA001]
项目资助者国家自然科学基金[11833010, 11773069,11873091] ; 云南省基础研究计划重点项目[2019FA001]
语种中文
学科领域物理学 ; 光学 ; 天文学 ; 天文学其他学科
文章类型Article
出版者CHINESE LASER PRESS
出版地PO BOX 800-211, SHANGHAI, 201800, PEOPLES R CHINA
ISSN0253-2239
URL查看原文
WOS记录号WOS:000571449500008
WOS研究方向Optics
WOS类目Optics
关键词[WOS]RETARDATION
CSCD记录号CSCD:6734615
EI入藏号20202708884123
EI主题词Optical devices
EI分类号741.1 Light/Optics - 741.3 Optical Devices and Systems - 941.3 Optical Instruments
引用统计
被引频次:5[WOS]   [WOS记录]     [WOS相关记录]
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ynao.ac.cn/handle/114a53/23374
专题天文技术实验室
通讯作者袁沭
作者单位1.中国科学院云南天文台, 云南, 昆明, 650216
2.中国科学院大学, 北京, 100049
第一作者单位中国科学院云南天文台
通讯作者单位中国科学院云南天文台
推荐引用方式
GB/T 7714
彭建国,袁沭,金振宇,等. 基于双光束检偏的波片测量系统[J]. 光学学报 (Acta Optica Sinica),2020,40(9):70-78.
APA 彭建国,袁沭,金振宇,&季凯帆.(2020).基于双光束检偏的波片测量系统.光学学报 (Acta Optica Sinica),40(9),70-78.
MLA 彭建国,et al."基于双光束检偏的波片测量系统".光学学报 (Acta Optica Sinica) 40.9(2020):70-78.
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