| 恒星自转测量标准系统(Ⅱ) |
| 潘开科; 谭徽松
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| 发表期刊 | 天文学报
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| 1993-06
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| 卷号 | 34期号:2页码:159-164 |
| 产权排序 | 第1完成单位
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| 收录类别 | CSCD
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| 关键词 | 谱线
临边昏暗
恒星自转
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| 摘要 | 本文讨论了临边昏暗效应对恒星自转测量的影响,结果表明:该效应在V_αsini的测量中起重要作用,在临边昏暗系数为1.0的极端情况下,它对自转速度测量值的影响可以达到17%。作为文(Ⅰ)的后续,本文对slettebak新、老系统间的系统差提出了新的解释:该系统差的产生可主要归因于:(1)老系统对临边昏暗作了不适当的二次重复修正;(2)由于历史的原因,老系统选用的临边昏暗系数偏大。 |
| 项目资助者 | 国家自然科学基金
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| 语种 | 中文
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| 学科领域 | 天文学
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| 文章类型 | 期刊论文
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| ISSN | 0001-5245
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| CSCD记录号 | CSCD:216166
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| 引用统计 |
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.ynao.ac.cn/handle/114a53/1235
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| 专题 | 其他
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
潘开科,谭徽松. 恒星自转测量标准系统(Ⅱ)[J]. 天文学报,1993,34(2):159-164.
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| APA |
潘开科,&谭徽松.(1993).恒星自转测量标准系统(Ⅱ).天文学报,34(2),159-164.
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| MLA |
潘开科,et al."恒星自转测量标准系统(Ⅱ)".天文学报 34.2(1993):159-164.
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文件名：
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恒星自转测量标准系统_潘开科.pdf
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格式：
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Adobe PDF
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