一种基于杨氏双缝干涉理论检测望远镜成像质量的方法 | |
常亮; 王建国; 王传军; 辛玉新; 范玉峰; 白金明; 伦宝利 | |
申请(专利权)人 | 中国科学院云南天文台 |
专利号 | ZL201611007630.7 |
申请号 | CN201611007630.7 |
2016-11-16 | |
申请日期 | 2016-11-16 |
公开(公告)号 | CN106500968A ; CN106500968B |
公开日期 | 2017-03-15 |
IPC 分类号 | G01M11/02 |
授权国家 | 中国 |
专利类型 | 发明 |
专利状态 | 授权 |
授权日期 | 2019-07-02 |
学科领域 | 天文学 |
产权排序 | 1 |
摘要 | 本发明涉及一种基于杨氏双缝干涉理论检测望远镜成像质量的方法,具体步骤如下:首先根据已知的望远镜参数计算该系统中准直,成像系统及离焦透镜的通光口径和个系统焦距等相关参数,并根据当地大气视宁度情况计算出Hartman屏每个小空的直径及小孔间距。在数据处理时,首先探测到的小孔及干涉像,并记录它们的位置。硬件设计加工和软件研发完成后,要对整个系统进行联合调试,检验系统软硬件的匹配情况,以便及时修改错误与不足,使整个系统的工作尽善尽美。联调结束后,就要通过观测来进行望远镜像质的检测。该发明方法能有效地针对望远镜成像质量进行检测,使用效果好,便于根据需要使用。 |
主权项 | 1.一种基于杨氏双缝干涉理论检测望远镜成像质量的方法,其特征在于:具体步骤如 下: 首先根据已知的望远镜参数计算该系统中准直,成像系统及离焦透镜的通光口径,并 根据当地大气视宁度情况计算出Hartman屏每个小空的直径及小孔间距;软件开发是根据 杨氏双缝干涉理论,测量离散相差;对于Hartman屏上的众多小孔,如果CCD在远离成像镜焦 面的位置,在CCD上各个小孔的像就会彼此交叠,发生干涉;那么在合适的位置上,干涉图像 的极大值就会被记录,离开成像镜焦点的位置由下式给出: S = λ ( f d ) 2 式中,S为离焦量,λ为中心波长,f为系统焦距,d为小孔间距; 在数据处理时,首先探测到的小孔及干涉像,并记录它们的位置;干涉像的精确位置取 决于小孔之间的相差;用杨氏双缝干涉公式来解决极大值干涉像在CCD上的位置,但是注意 到这里有4个相位孔径参加干涉,把小孔的相位差和干涉像质心位置与4个小孔的中心位置 偏差Δx,Δy关联起来,有公式: Δφ x = ( φ 3 + φ 4 ) - ( φ 1 + φ 2 ) = 2 d Δ x f Δφ y = ( φ 1 + φ 3 ) - ( φ 4 + φ 2 ) = 2 d Δ y f 上式中,Δφ是小孔的相差,φ是相位,d是相邻小孔间距; 假设在Hartman屏上取M个采样点,对于每个采样点i来说,在瞳上都有无量纲的坐标 (xi,yi),通过测量m=0时干涉斑图像位移,得到采样点的波前倾斜推算 小孔干涉的相位差为: 上式中ap和sp是Hartman屏孔径间距投射到无量纲瞳上的位置;已知取样点i的波前Wi 由带振幅系数Cj的N项泽尼克多项式Zj来描述: W ( x i , y i ) = Σ i - 1 n Z j ( x i , y i ) C j = W i 用矩阵来描述在CCD上探测到的离散的波前误差为: ∂ Z 1 ∂ x ( x 1 , y 1 ) ... ∂ Z 1 ∂ x ( x 1 , y 1 ) ... ... ... ∂ Z 1 ∂ x ( x M , y M ) ... ∂ Z N ∂ x ( x M , y M ) ∂ Z 1 ∂ y ( x 1 , y 1 ) ... ∂ Z N ∂ y ( x 1 , y 1 ) ... ... ... ∂ Z 1 ∂ y ( x M , y M ) ... ∂ Z N ∂ y ( x M , y M ) C 1 ... C N ∂ W 1 ∂ x ... ∂ W M ∂ x ∂ W 1 ∂ y ... ∂ W M ∂ y 上面矩阵的纵列表述了在CCD上每个波前倾斜多项式在整个波前测量中的影响,多项 式是一个[A](x)=b的形式,[A]是一个2M×N的多项式; 在瞳面上,取M个相差点和K个相位孔,每一个相位都由下式来描述: 根据上面的描述,1)要在计算机里建模,模拟不同像差情况下望远镜的像质,用于和实 测值进行比较;2)编写图像采集程序,数据处理程序;记录光斑和干涉像位置的这个过程用 天文数据处理程序完成,采用IRAF和IDL软件来实现;3)编写程序模拟大气湍流信息,由 Kolmogorov湍流产生的均方根相位差为δ(φ),它取决于Hartman屏上小孔采样的空间分布 x: 上式中,大气相干长度r0对应于0.4175个中心波长λ的相位误差;r0与长曝光冻结大气 后干涉斑所对应的天空角θ的关系为: θ ( a r c sec ) ≅ 20.2 λ r 0 Hartman屏上小孔间隔d作为视宁度的函数,它的上限通过当均方根相差δ(φ)~1/2λ 时进行估计,得到: 由上式看出,波长λ,天空角θ和小孔的空间分布x,决定了大气湍流的限制,匹配视宁度 和干涉图的角间距(θ~λ/d)确定这种限制的等级;4)用IDL程序调用图像采集,数据处理和 大气湍流信息,输入到泽尼克多项式的计算程序中,分析处理得到远镜像质情况;首先处理 定标单元所产生的波前误差,接着,程序会直接给出测量图像正确的泽尼克系数,用户根据 实际情况给出系数的数量;程序执行下列步骤:a:沿着规则的栅格排列干涉像;b:根据屏的 精度确定主极大干涉像;c:计算定标值和测量值的差异,给出波前的局部倾斜的分析结果; d:满足适合泽尼克多项式的最小二乘方中的波前倾斜计算;5)把软件开发成交互式友好界 面,提高观测效率; 硬件设计加工和软件研发完成后,要对整个系统进行联合调试,检验系统软硬件的匹 配情况,以便及时修改错误与不足,使整个系统的工作尽善尽美;联调结束后,就要通过观 测来进行望远镜像质的检测; 首先让望远镜指向目标星曝光,系统包含如下的波前信息: {大气湍流}+{望远镜}+{YFOSC}+{波前探测器} 然后把定标灯移到望远镜焦面上,进行曝光,这时系统的波前信息应该为: {YFOSC}+{波前探测器} 这两次曝光后,就把YFOSC和波前探测器的波前误差减掉,剩下: {大气湍流}+{望远镜}的波前信息,在上面的介绍中知道,大气湍流信息是用Zemax的 编写的宏文件模拟的,并被IDL调用,去除,这时就只剩下{望远镜} 的波前信息,再用泽尼克多项式进行分析,得到望远镜的像质情况; 在检测望远镜像质时,要进行多方位,多次测量:1)同一个目标曝光几幅的成像质量测 试,2)同一个目标长时间观测,曝光几百幅的成像质量测试;3)不同目标,不同望远镜位置 (方位,高度)的观测测试;这些步骤的目的是为了在望远镜的像质已经被恰当的分析后,在 一段时间里观察任何可能的像差变化,并观察像质和望远镜在不同位置时的内在联系,以 及温度,风速变化等环境因素对望远镜像质的影响。 |
语种 | 中文 |
专利代理人 | 李宏伟 |
代理机构 | 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.ynao.ac.cn/handle/114a53/12046 |
专题 | 南方基地 |
作者单位 | 中国科学院云南天文台, 云南省昆明市官渡区羊方旺396号 |
第一作者单位 | 中国科学院云南天文台 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 常亮,王建国,王传军,等. 一种基于杨氏双缝干涉理论检测望远镜成像质量的方法. ZL201611007630.7[P]. 2016-11-16. |
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CN106500968A-一种基于杨氏双(657KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 请求全文 | ||
CN106500968B-一种基于杨氏双(738KB) | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 请求全文 |
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